更新日 ： 2018/02/22
開催日 ： 2018/02/21
時間 ： 18:30-20:00
講師 ： 高知工業高等専門学校 ソーシャルデザイン工学科 横山 有太 講師
開催場所 ： ココプラ
高知県 産学官民連携センター ココプラ で開催する「シーズ・研究内容紹介」では、高知県内５つの高等教育機関（高知大学、高知県立大学、高知工科大学、高知学園短期大学、高知工業高等専門学校）、公設試験研究機関等が持ち回りで、研究内容や取組等を紹介します。原則、隔週 水曜日 開催（毎月第1回開催分は15：30-17：00、それ以外は18：30-20：00開催）。申込〆切は開催２日前の月曜日。定員36名（無料）。どなたでも参加可能です。 新しいビジネスの種（シーズ）や、研究機関との交流の機会をお探しの企業の皆さま、ぜひこの機会にご参加ください。
日時
平成30年2月21日（水）18:30-20:00（PM6：30-PM8：00）
講師
高知工業高等専門学校 ソーシャルデザイン工学科
横山 有太 講師
【プロフィール】
筑波大学第3学群工学基礎学類応用物理主専攻 卒業（2007年）
筑波大学大学院数理物質科学研究科物質創成先端科学専攻 博士前期（修士）課程修了（2009年）
筑波大学大学院数理物質科学研究科物質創成先端科学専攻 博士後期課程修了（工学）（2012年）
独立行政法人日本原子力研究開発機構 博士研究員（2012年～）
成蹊大学理工学部物質生命理工学科 助教（2014年～）
高知工業高等専門学校ソーシャルデザイン工学科 講師（2016年～）
テーマ
隠れた情報を引き出す－質量分析と多変量解析を用いたデータ解析手法について－
テーマの概要（講師より）
質量分析とは、測定したい試料を原子・分子レベルの大きさのイオンにし、その重さや数を測定することで、その試料に含まれる元素の種類や量を調べる方法です。なかでも、飛行時間型二次イオン質量分析法(ToF-SIMS)と呼ばれる手法は、試料表面の形状と、そこにどんな元素が存在するかを超高感度で測定することができます。その反面、得られるデータは非常に膨大であり、本当に知りたかった情報がデータの山の中に埋もれてしまうことがあります。このような場合、多変量解析と呼ばれるデータ解析手法を用いることで、隠れた情報を引き出せることがあります。例えば、肉眼や通常の顕微鏡等では見ることのできない局所的な汚染や、検出強度が非常に弱い極微量成分を分離することが可能です。発表では、ToF-SIMSによるポリマーや生体分子、植物試料の測定例を中心に、隠れた情報を引き出す解析方法をご紹介します。
●キーワード：質量分析、データ解析、植物
特にこんな方にオススメ
・質量分析やデータ解析に関心のある企業・団体の皆さま
・農産物の付加価値を高めたい企業・団体等の皆さま
定員
36名
場所
高知県産学官民連携センター ココプラ
780-8515 高知市永国寺町６番２８号
（高知県立大学・高知工科大学永国寺キャンパス 地域連携棟１階）
● 会場併設の駐車場（無料）をご利用いただけますが、数に限りがあります。
● 周辺に有料の駐車場もございますが、来場に際しては、公共交通機関をご利用くださいますようご協力をお願いいたします。
申し込み締め切り
平成30年2月19日（月）
※席に空きがある場合は当日でもご参加いただけますが、申し込みをされた方を優先させていただきます。可能な限り事前にお申し込みください。
※シーズ・研究内容紹介の申し込み締め切りは、開催２日前の月曜日です。
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